ÀÏÀß·¯Ã¤¿ë°ü
ä¿ëÁ¤º¸
ÀÎÀç°Ë»ö
±³À°Á¤º¸
ÇìµåÇåÆÃ
½º¸¶Æ®Å¸¿î
ȸ¿ø¼­ºñ½º
À̷¼­ µî·Ï
ä¿ë°ø°í µî·Ï

ä¿ëÁ¤º¸

SMART TOWN
Á÷¾÷µ¸º¸±â
¸éÁ¢ Helper
Specialist Interview
À̷¼­ Ŭ¸®´Ð
À̷¼­ »ùÇÃ
ÀÚ±â¼Ò°³¼­ »ùÇÃ

ä¿ëÁ¤º¸ ½ÅûÇϱâ

1000´ë ±â¾÷ ä¿ëÁ¤º¸ ä¿ëÁ¤º¸ 1000´ë ±â¾÷ ä¿ëÁ¤º¸
* ±×·ì¸íÀ» ¼±ÅÃÇϽøé ÇØ´ç °è¿­»çÀÇ ÁøÇàÁßÀΠä¿ëÁ¤º¸ ¹× ¸éÁ¢, ¼­·ùÀüÇü µîÀÇ Ãë¾÷Á¤º¸¸¦ È®ÀÎÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
»ï¼º
Çѱ¹Àü·Â°ø»ç
Çö´ëÀÚµ¿Â÷
SK
LG
Çѱ¹µµ·Î°ø»ç
·Ôµ¥
Çѱ¹¼®À¯°ø»ç
Æ÷½ºÄÚ
KT
GS
ÇÑÁø
Çѱ¹ÅäÁöÁÖÅÃ
Çö´ëÁß°ø¾÷
ÇÑÈ­
Çѱ¹Ã¶µµ°ø»ç
µÎ»ê
±ÝÈ£¾Æ½Ã¾Æ³ª
Çѱ¹°¡½º°ø»ç
ÇÏÀ̴нº
µ¿ºÎ
Çö´ë
½Å¼¼°è
CJ
LS
´ë¸²
Çѱ¹Áö¿¥
STX
µ¿±¹Á¦°­
È¿¼º
´ë±â¾÷ ¡¤ °øä   ±â¾÷¸í Á¦¸ñ
SK
ȸ»ç¸í | Á¦¸ñ | ¸¶°¨ÀÏ | Ãë¾÷Á·º¸
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
°Ç¼³±âȹ½Ç °æ·Â»ç¿ø ä¿ë - ¸¶°¨ ~07/09 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Àü»ç ¿ø°¡ ¼ÕÀÍ »êÃâ ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~07/16 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
¾ÈÀü/º¸°Ç/ȯ°æºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ä¿ë - ¸¶°¨ ~07/16 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
ÀÓ¿ø ºñ¼­ ä¿ë - ¸¶°¨ ~07/16 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) ¼öÃâÀÔ Åë°üºÐ¾ß °ü¼¼»ç ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~07/23 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
SCM ±¸Ãà ¹× PI ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~07/30 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) ´Éµ¿/¼öµ¿ºÎÇ° Ç°Áú°ü¸® ä¿ë - ¸¶°¨ ~07/31 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
°³¹ß±¸¸Å(¼ÒÀÚ±¸¸Å) ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~08/01 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) º¯È£»ç ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/01 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
±Þ¿© ¹× ±ÙÅ °ü¸®ÀÚ Ã¤¿ë - ¸¶°¨ ~08/06 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
2017³â(ÇÏ) ½ÅÀÔ Maintenance ä¿ë ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~08/14 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
ƯÇã ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~08/20 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
°³¹ß/±¸¸Å ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/20 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
DRAM Diagnostic Test solution Software °æ·Â»ç¿ø.. - ¸¶°¨ ~08/27 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀç Ç°Áú°ü¸®(¼öÀÔ°Ë»ç) ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/29 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
Ç°Áú°ü¸®(Data ºÐ¼®) °æ·Â»ç¿ø ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/29 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Wafer Level PKG Ç°Áú°ü¸® ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/27 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Mobile Electrical Program ¿î¿µ ¹× ºÐ¼® ä¿ë - ¸¶°¨ ~08/27 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) °èÃø°øÁ¤ Engineer ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~08/31 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) °èÃø°øÁ¤ Engineer ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~08/31 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
SKÇÏÀ̴нº ¿ì½Ã¹ýÀÎ Åë,¹ø¿ª»ç ½ÅÀÔ/°æ·Â ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~09/02 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Enterprise SSD ½ÇÀå Æò°¡ ä¿ë - ¸¶°¨ ~09/03 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Enterprise SSD Á¦Ç° ÀÎÁõ ä¿ë - ¸¶°¨ ~09/03 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) Áß±¹ º¯È£»ç ä¿ë - ¸¶°¨ ~09/14 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
¼ÒÀç±â¼úºÐ¾ß °æ·Â ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~09/28 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
CIS »óÇ°±âȹ ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~10/05 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(½ÅÀÔ/°æ·Â) ÀηÂÆÀ ÀÎ»ç º¯µ¿ ´ã´çÀÚ Ã¤¿ë - ¸¶°¨ ~10/10 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(½ÅÀÔ/°æ·Â) ÀÀ±Þ±¸Á¶»ç ä¿ë - ¸¶°¨ ~10/15 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) ¹Ì±¹ º¯È£»ç ä¿ë (Global Compliance) - ¸¶°¨ ~10/15 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
(°æ·Â) °øÀÎ ³ë¹«»ç °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~10/22 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
Ç°Áú°ü¸®(Data ºÐ¼®) °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~10/22 -
SKÇÏÀ̴нº
ÀÛ¾÷ȯ°æÀÇÇÐÀü¹®ÀÇ Ã¤¿ë - ¸¶°¨ ~03/16 -
SKÇÏÀ̴нº
½Ã°£¼±ÅÃÁ¦±Ù¹«ÀÚ º¸°ÇºÐ¾ß ä¿ë - ¸¶°¨ ~04/16 -
SKÇÏÀ̴нº
°ü¸® ȸ°èºÐ¾ß °æ·Â »ç¿ø ä¿ë - ¸¶°¨ ~04/30 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
NAND Peripheral Transistor ¼ÒÀÚ °³¹ß °æ·Â»ç¿ø ¸ð.. - ¸¶°¨ ~05/15 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
¸¶ÄÉÆÃÀü·« ¼ö¸³ °æ·Â»ç¿ø - ¸¶°¨ ~05/10 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
¿ì½ÃFAB¼¾ÅÍ ¿µ¾ç»ç ä¿ë - ¸¶°¨ ~05/25 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
2015³â Global R&D ÀÎÀç ä¿ë - ¸¶°¨ ~05/31 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
SSD Test S/W °³¹ß/¿î¿µ ºÐ¾ß - ¸¶°¨ ~05/31 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
Conventional PKG °øÁ¤ °³¹ß ºÐ¾ß(°æ·Â) ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~06/12 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
PKG ±¸Á¶/¿­/Àü±â Çؼ® ºÐ¾ß ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~06/12 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
PKG New Product °³¹ß ºÐ¾ß(°æ·Â) ä¿ë - ¸¶°¨ ~06/12 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
Photo±â¼ú±×·ì APCÀü¹®°¡ °æ·Â ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~06/19 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
¿µ¾î Å뿪»ç(°æ·Â) ä¿ë - ¸¶°¨ ~07/05 -
SKÇÏÀ̴нº(ÁÖ)
Stability Test Tool °³¹ß °æ·Â»ç¿ø ¸ðÁý - ¸¶°¨ ~07/07 -
ù ÆäÀÌÁö À̵¿   1 2 3 4 5 6 7 8 9 10